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反射率测量系统

来源: 时间:2017-02-22 16:01:14 浏览次数:

反射率测量系统

说明

在实际应用中经常需要测量某些物体的光谱反射特性本系统提供了一个快捷测量方案,测量物体的反射率

系统配置

1:光谱仪

2:软件SpectraPro V3.3

3:卤素灯光源

4:标准白板

5Y型光纤1根(SMA905

将卤素灯引出来的光纤接口连接到滤色片固定架的一头,滤色片固定架的另一头连接到光谱仪的入光口。

搭建测量系统后,进行如下123测量:

1、  测量背景光

由于环境并不是完全的无光状态,因此我们需要测量并减扣环境中的背景光,减少环境光源对测量结果的影响。测量前需要关闭卤素灯光源,在此状态下将光谱采集到SpectraPro软件中进行显示,此时点击“菜单-测量功能-缓存背景光-测量功能-显示测量控制台。

2、  测量参考光

在测量背景光之后,打开卤素灯光源,然后将Y型光纤的C口垂直对准标准白板,在此状态下将光谱采集Spectral软件中进行显示,此时点击:“菜单-测量功能-缓存参考光(F10)”将测量到的参考光谱保存。

3、  测量反射率

在完成上述12步骤后,可以开始测量反射率。将光谱采集到SpectraPro软件中进行显示,此时点击“菜单-测量功能-反射率模式”将得到系统此时的反射率。如果需要保存结果,请按“空格”暂停采集,然后点击“菜单-文件-另存光谱”保存此时的反射率曲线。如果需要测量其他样品的反射率,那么可以直接将Y型光纤的C口对准物体表面,而不必重复12步骤。

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